Užraktai in th dizainas

A

alam.tauqueer

Guest
Kodėl mes vengiame skląsčiai ir dizainas, net jei jie skirti tik ląstelių nedelsiant.
Ar yra koks nors laikas susijusius klausimus?

linkėjimai,
Tauqueer

 
Kai skląsčiu yra įjungtas jis bus perduoti watever ar yra jo D sąnaudos Q produkcija.Jei tarkime bet glitch eina D ir užrakinamas įjungta jis perduos jį Q.Visada glitch sukurti problemą ir būtų galima sužinoti tai.

Užraktai yra greitas, sunaudoja mažiau energijos, mažiau ploto nei Flops bet glitches galite ateiti kartu su šia advantages.Thats kodėl mes už FLOPS.

 
Pat Užraktai nėra DFT draugiškas ...Iš tiesų labai sunku atlikti statinių laiko analizės skląsčiai savo dizainu ...

 
Can U Prašau, paaiškinkite man, kaip
Kodėl tai yra labai sunku atlikti STA su skląsčiai ir dizainas ....

Linkėjimai,
Tauqueer

 
skląsčiu nėra gera, nes šimtą grindžiamas posedge iš CLK tai laiko patikrinti ir skląsčiu yra lygio jautri.pat DFT reikia padaryti tam tikrų specialių veiksmų, kad būtų išspręsti šią skląsčiu!

 
Ar galite paaiškinti man, kas yra tos specialios žingsnis siekiant kovoti skląsčiai ir DFT.
Būtų labai padeda man suprasti problemą.

Linkėjimai,
Tauqueer

 
Pasakykite man, kaip veikia trigeris neleidžia glitches bet skląsčiu veikia?

 
HI

Užraktai leis ne įvesties duomenis, siekiant atspindėti bent iki visą laiką Latch įjungta, ty kai ji įjungta Ji ragino būti skaidrūs, ty išėjimo galia taip įvesties Taigi, jei glitch atrodo, kad bus atsižvelgta į produkcija

bet su FF atveju taip nėra, išėjimo taip sąnaudų tik į laikrodį kraštas teigiamas ar neigiamas.

Taigi bet glitch, esantis prie įėjimo nebus perkelti į produkcijos nebent laikrodžio krašto yra

Tikimės, kad ši paaiškino savo abejonių

 
Tauqueer,
Jei jūsų dizaino complety skląsčiu grindžiamas projektavimas (usuallly IBM pramoniniam dizainui), tai galite naudoti LSSD skenavimas dar normalus skenavimas FS kurių Desing, jūs galite fiksatoriai skaidria metu testmode.Pavyzdžiui laikrodis strobavimo ląsteles sklende, jūs ORed su testmode signalą.
neskaidrios užraktai yra modeliuojama kaip TIEx pagal ATPG įrankis.Taigi aprėpties lašų.
~ C Santhosh Kumar

 
Taqueer,

Prieš įjungti į Latch vieta 2X1 mux su sel ir vienas PIN susiję su bandymo režimo signalas (ARBA vartai su testmode ir faktinė kad signalas).Ketinama padaryti Latch visada darydamas DFT aprėpties ..

 
You must log in or register to reply here.

Welcome to EDABoard.com

Sponsor

Back
Top