Patikimumas Pabandykite

[Auksas grynuolis]

Gali kas nors pasiūlyti man medžiagos arba dokumentą dėl CMOs patikimumo klausimas pvz NCS (ne atliekant streso) HCS (karšto vežėjas pabrėžti)?I
won't planas turi suprasti, bet tai geriau parodyti man nuotrauką.
Ačiū

 

[DoctorProf]

Daugelis iš pagrindinių puslaidininkių pardavėjai turėti dokumentus savo interneto svetainėse, apibūdinantys Amortizacija mechanizmus.Pagrindiniai Amortizacija mechanizmus CMOS yra:

Electromigraion - metalo sluoksnių anuliuoti dabartinės srautas
Stresas migracija - metalo sluoksnių anuliuoti, nes mechaninis įtempis
Hot Carrier - NMOS, NPN skilimo dėl aukšto energijos vežėjais
NBTI - (Neigiami Įstrižinės Temperatūra Nestabilumo) PVO prietaisai
TDDB - Laikas priklausomosios Dielektriniai Suskirstymas (vartai oksidas, capactior oksidas)

Aš akiniai Ieškoti "puslaidininkių nepakankamumo mechanizmus" ir gavo apie 106K hitai.Žvelgiant per šias Matau keletą didelių gamina:

http://www.mitsubishichips.com/reliability/
http://www.sony.net/Products/SC-HP/tec/catalog/qr.html

Norėčiau pasiūlyti jums visame internete ir pamatyti, kas yra nemokama ir tu gali ieškoti Amazon ar BarnsandNoble knygų, kurios yra prieinamos Puslaidininkių Klaida mechanizmai.

Dr.Prof

 

[btoner]

A tašku gali būti JEDEC JESD28-dokumentas.Jame išvardijami bandymai metodika karšto vežėjas bandymai, parametrų skilimo ir gyvenime ekstrapoliacija.Įprastomis CMOS prietaisų, kuriuos ji yra geras atspirties taškas.Aš nesu tikras, ar šis dokumentas apima NMOS / PVO prietaisai.Yra nedideli skirtumai metodika.Be to, aukštos įtampos įtaisai negali elgtis taip, kaip parodyta idealiu kaip ir standartas.

Brendan